Abstract FR:

Le test d'écrans d'ordinateurs nécessite de déterminer les coordonnées des pixels défectueux-anormalement allumés ou anormalement éteints-. Si l'on désire obtenir une image de l'ensemble de l'écran au moyen d'une caméra de définition courante, on est confronté à une problème de résolution puisque le nombre de pixels de l'écran est très supérieur au nombre de pixels de la caméra CCD. Nous présentons dans ce mémoire une méthode d'analyse basée sur l'exploitation d'une image super-résolue obtenue à partir de multiples clichés à basse résolution de l'ensemble de l'écran. L'approche préconisée est fréquentielle, ce qui permet une excellente exploitation des connaissances a priori concernant la périodicité du spectre de mires régulières de points affichés sur l'écran. La période des mires doit être choisie de manière à ce que les dégradations dues à l'acquisition ne soient pas irréversibles sur le motif spectral central. Le point clef pour une bonne reconstruction consiste en l'adaptation rigoureuse des pas d'échantillonnage spectraux de l'image suréchantillonnée (entrelaçage des clichés BR) et de la mire que l'on souhaite reconstruire. Ce procédé esr très souple d'utilisation, notamment en ce qui concerne le positionnement écran/caméra. Les seules contraintes requises sont l'utilisation d'une optique de bonne qualité et un réglage soigneux du parallélisme des plans écrans et CCD. Dans ce soucis de souplesse, une grosse partie du travail a constitué en l'automatisation de l'ensemble du processus de reconstruction, en proposant notamment des méthodes d'identification des paramètres clefs de l'acquisition.