Abstract FR:

Ce travail décrit un modèle théorique de microscopes optiques en champ proche basé sur la méthode de Rayleigh. Cette méthode, utilisée par ailleurs depuis plusieurs décennies pour l'étude de la diffraction par des surfaces de faible relief, s'est avérée donner la bonne valeur du champ électromagnétique dans les configurations qui interviennent en microscopie optique du champ proche. Dans ces configurations les structures décrites ont une extension latérale plus petite que la longueur d'onde et une rugosité suffisamment faible pour que l'hypothèse de Rayleigh soit satisfaite. Ce travail est composé de trois parties. Dans la première est présenté le contexte théorique dans lequel se situe ce travail. Dans la deuxième partie est détaillé le formalisme vectoriel de la solution de Rayleigh des équations de Maxwell. Son domaine d'application est étendu pour des structures multicouches 3D. Dans la troisième partie, après une validation de la méthode au moyen de résultats expérimentaux publiés, le précédent formalisme est appliqué pour décrire des microscopes optiques en champ proche dans des configurations en STOM, SNOM et aperturless-microscope. . .