Abstract FR:

Le développement des télécommunications optiques, en particulier celui des réseaux optiques locaux et internationaux, et des capteurs, pousse les opérateurs à la fabrication de composants optiques de plus en plus performants. L'intégration croissante de plusieurs fonctions optiques sur un même substrat s'est accompagnée de difficultés quand à la modélisation et la caractérisation de ses composants. La microscopie optique en champ proche offre la possibilité d'étudier des éléments d'optique guidée, notamment la propagation du champ le long du guide : la détection des ondes évanescentes à la surface du composant est effectuée par la sonde dont le balayage permet de cartographier la distribution de l'énergie électromagnétique. Par ailleurs une nouvelle génération de composants optiques est apparue ces dernières années : il s'agit de structures périodiques de dimension inférieure à la longueur d'onde, connues sous le terme générique de "cristaux photoniques". Ces dispositifs offrent de grandes potentialités (filtrage, multiplexage,. . . ).