Caractérisation thermophysique et étude de fiabilité d’un composant en électronique de puissance
Institution:
PerpignanDisciplines:
Directors:
Abstract EN:
The last twenty years have seen a drastic increase of components work frequencies in order to reduce the size of electronic systems. That increase leads to current inhomogeneities in the components. Such inhomogeneities have been previously studied by electromagnetic way. Consequently, heat sources appear in the components, having an influence on the reliability of the components as well as the associated system. This paper deals with the adaptation of a non destructive photothermal method, the modulated photoreflection, to detect heat sources in an electronic component such as the capacitor.
Abstract FR:
De manière à toujours plus diminuer l'encombrement des systèmes d'électronique, les fréquences de travail des composants n'ont cessé d'augmenter sur ces 20 dernières années. Cet accroissement provoque inévitablement des inhomogénéités de courant dans les composants qui ont pu être détectées et quantifiées par des études électromagnétiques. Ces inhomogénéités sont par ailleurs d'autant plus importantes que la fréquence est élevée. Par conséquent des sources de chaleur localisées apparaissent dans les composants, influençant directement leur fiabilité et celle du système associé. Cet article décrit l’utilisation d’une méthode de caractérisation photothermique non destructive, la photoréflexion modulée, afin de détecter des sources de chaleur dans un composant passif électronique, ici le condensateur.