Abstract FR:

Ce travail s'interesse au diagnostic fonctionnel de microprocesseurs. Deux objectifs essentiels sont vises: recherche de nouveaux mecanismes de defaillances dans le but d'enrichir la base de connaissance actuelle et aide a la localisation de defauts. Apres une etude bibliographique du probleme de diagnostic de microprocesseurs dans ses deux aspects: detection et localisation, une approche de diagnostic dite approche "a posteriori" est proposee. Elle permet la localisation d'anomalies dans des circuits defectueux a l'aide d'une suite d'actions du type hypotheses d'erreurs/validation. Les hypotheses d'erreurs sont determinees en fonction des symptomes reellement observes lors d'un test. Cette approche a ete mise en oeuvre en utilisant la chaine de test gapt. Elle a ete appliquee a un ensemble de microprocesseurs 80c86. Les resultats obtenus ont prouve l'efficacite de cette methode et la souplesse d'utilisation de la chaine de test gapt.