Techniques innovantes pour la testabilité des circuits intégrés radio-fréquence
Institution:
Lyon, INSADisciplines:
Directors:
Abstract EN:
Radio frequency integration-circuit suffers various industrial tests to verify the agreement to customer specifications. These RF specifications can hardly be assessed at wafer level. In order to reduce the economic impact of RF tests and to over cover the limitation in test performances, it is necessary to propose new test methods. Signatures are reasonable candidates for the estimation of RF performances based on DC low-frequency measurement. The manuscript first details the tests performances assessment. Then the test method is described and particularly neural networks are used and learning issues are addressed along with the pertinence of input data. Design for test blocs one also introduced to enhance the pertinence of neural network input data with respect to RF quantities. Finally, a design flow for testability is attempted. Commercial transceivers are used for experimental validation of the proposed methods.
Abstract FR:
Les circuits intégrés radio-fréquence subissent différents tests industriels pour vérifier leur conformité aux spécifications du client. Pour réduire l’impact économique du test, il est nécessaire de développer de nouvelles méthodes de tests. La notion de signature a été utilisée pour estimer des performances RF d’un CI à partir de la mesure de courants et tensions continus et en basse fréquence. Le manuscrit détaille tout d’abord une méthode de quantification de la pertinence d’un test. Il décrit ensuite la méthode innovante proposée, qui fait appel à la mise en œuvre des réseaux de neurones. Le manuscrit décrit des blocs de stabilité qui ont pour but d’augmenter la pertinence des mesures et leurs corrélations avec les grandeurs RF. Enfin le manuscrit décrit un flot de conception intégrant la stabilité. Des vérifications expérimentales ont été menées sur des CI industriels et sur un grand nombre de pièces