thesis

Dépôts de nitrure de silicium assistés par plasma à couplage inductif ICP-PECVD : application à la passivation du transistor à haute mobilité électronique GaInAs/InP

Defense date:

Jan. 1, 2001

Edit

Institution:

Paris 7

Disciplines:

Directors:

Abstract EN:

Pas de résumé disponible.

Abstract FR:

Pas de résumé disponible.