Abstract FR:

L'usage intensif de fonctions microprogrammées ou plus généralement de logiques bas niveau expose les équipements électroniques à certaines défaillances en présence de champs électromagnétiques hautes fréquences. Ces derniers produisent des mécanismes d'inductions dont les agents sont les lignes de transmissions et les pistes imprimées qui communiquent avec les ports d'accès à un composant intégré dont le fonctionnement peut être troublé. Notre thèse consiste à comprendre et à modéliser ces phénomènes de façon à comparer la sensibilité de différentes variantes de technologie disponible sur le marché des composants. Au cours du premier chapitre, des signaux impulsionnels appliqués sur la sortie de fonctions logiques élémentaires prouvent que son comportement joue un rôle majeur lors des agressions. Le second chapitre est consacré à la modélisation du port de sortie dans le cas d'une logique TTL. L'action du perturbateur s'accompagne ici de transitoires capables d'atteindre les seuils de sensibilité d'un composant connecté en aval. Dans les deux chapitres qui suivent, nous présentons un modèle théorique du fonctionnement d'un étage CMOS ainsi qu'un protocole de mesure des paramètres macroscopiques du circuit intégré sous test. Deux aspects fondamentaux sur le plan de la compatibilité électromagnétique des cartes électroniques seront ainsi mis en évidence lors du cinquième chapitre