thesis

Caractérisation électrique des structures bipolaires VLSI : évaluation de paramètres critiques

Defense date:

Jan. 1, 1991

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Institution:

Bordeaux 1

Disciplines:

Directors:

Abstract EN:

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Abstract FR:

Dans le contexte des circuits vlsi se sont developpees de nouvelles structures bipolaires avancees miniaturisees. La premiere partie du memoire presente les originalites de ces structures et donne une vue d'ensemble de leurs technologies. La seconde partie s'interesse a leur modelisation. Elle expose une methode originale d'extraction de parametres dynamiques critiques a partir de mesures electriques simples effectuees sur des circuits de test de mise en Œuvre aisee