Abstract FR:

Dans ce travail, nous étudions les phénomènes physiques de bruit de diffusion dans les composants à hétérojonctions III. V de type TEGFETs. Cette étude est à la fois expérimentale et théorique. Nous commençons ce mémoire par la présentation d'une méthode de mesure de la puissance de bruit créée dans le canal de transistors à effet de champ. Le banc de mesure de la puissance de bruit conçu au départ pour fonctionner à l'ambiante, a été modifié pour permettre des mesures en basse température. Ainsi, il est possible de mesurer des puissances de bruit dans une gamme de fréquence 10 MHz-16 GHz, dans une gamme de température 77 K-293 K. Dans la partie théorique de ce travail, nous avons mis au point un modèle basé sur les équations de relaxation qui nous permet d'aboutir non seulement au calcul de la caractéristique statique ou des paramètres en haute fréquence petit-signal, mais aussi au calcul du bruit de diffusion dans les transistors étudiés. Nous avons montré, entre autres, comment il était possible d'améliorer la caractéristique statique en tenant compte de la variation du pseudo-niveau de Fermi avec l'énergie dans le canal du composant. Pour chaque étape (continu, dynamique, bruit), nous avons systématiquement validé notre modèle par une comparaison théorie/expérience. A en juger les résultats obtenus, nous montrons que ce modèle basé sur les équations de relaxation allie de manière assez rigoureuse et efficace rapidité, précision, et fiabilité