Abstract FR:

Ce travail est consacré à l'analyse électromagnétique de structures planaires intégrées et supraconductrices. Basée sur une formulation intégrale dans le domaine spectral, l'analyse électromagnétique décrit l'épaisseur et la nature des conducteurs réels tout en préservant des temps de calcul réduits. Les conditions aux limites non idéales imposées par ceux-ci sont traduites dans la formulation par des relations de type quadripôle évitant toute discrétisation. L'analyse est appliquée successivement aux technologies MMIC et supraconductrices. Dans le cas où la surtension est suffisante, il est montré que la recherche de la solution de l'équation de dispersion pouvait être accélérée par des hypothèses de linéarisation. Ce résultat est conforté par des validations ayant recours au maillage des structures. Préalablement, un résultat sur les conditions de convergence numérique des approches dans le domaine spectral a été établi à partir de la génération d'une base de fonctions étendues définies sur le domaine entier.