Abstract FR:

Ce travail presente la modelisation des effets des radiations ionisantes sur les composants bipolaires, et plus particulierement leur comportement vis a vis de la dose totale deposee. Le premier chapitre presente les differents environnements radiatifs. L'accent est mis sur les environnements spatiaux et sur les nouveaux environnements emergents. Les cas specifiques des composants et technologies bipolaires sont ensuite abordes, apres une presentation des differentes interactions susceptibles d'affecter le comportement des composants. Les mecanismes physiques lies au debit de dose sont egalement abordes. Le second chapitre presente une analyse physique des degradations induites par la dose cumulee sur les composants bipolaires, introduite par des simulations a l'aide du logiciel atlas (silvaco). Le troisieme chapitre expose une modelisation electrique empirique des degradations induites par la dose cumulee sur les composants bipolaires en regime statique. Une procedure originale d'extraction associee aux parametres radiatifs est presentee, melant un algorithme genetique associe a l'algorithme plus classique de levenberg-marquardt. Le dernier chapitre presente une structure pnp laterale controlee par grille. Cette topologie presente des proprietes interessantes de robustesse quant a sa tenue a la dose cumulee, l'influence de la grille etant particulierement sensible dans l'evolution de ses caracteristiques electriques.