Abstract FR:

Ce travail se situe dans le cadre general d'une etude comparative des technologies vlsi bipolaires stl, isl et ecl. Nous presentons une caracterisation des composants elementaires (transistors et diodes schottky) qui permet une modelisation statique complete des operateurs logiques stl et isl. Une methodologie generale de caracterisation et d'evaluation d'une famille logique permettant de preciser les criteres de qualite qui sont la densite d'integration, le facteur de merite et l'immunite au bruit a ete definie. Nous avons developpe a ce titre une methode originale de determination de l'immunite au bruit valable pour les trois technologies qui a ete appliquee au cas de la stl. A partir des mesures experimentales et en s'appuyant sur les calculs analytiques et les simulations, on a defini l'influence des divers parametres qui interviennent dans l'optimisation du fonctionnement de l'operateur logique de base