thesis

Caractérisation des modes de défaillance des capteurs d'images CMOS à pixels actifs en environnement spatial

Defense date:

Jan. 1, 2000

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Institution:

École nationale supérieure de l'aéronautique et de l'espace (Toulouse ; 1972-2007)

Disciplines:

Electrical engineering

Authors:

Directors:

Abstract EN:

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Abstract FR:

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