thesis

Contribution au test des circuits intégrés CMOS : étude du test des pannes stuck-on et stuck-open

Defense date:

Jan. 1, 1989

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Institution:

Grenoble INPG

Disciplines:

Electrical engineering

Authors:

Directors:

Abstract EN:

Ces pannes confèrent aux circuits CMOS des comportements spécifiques : une panne stuck-on (transistor colle ferme) transforme un circuit logique en circuit analogique, tandis qu'une panne stuck-open (transistor colle ouvert) transforme un circuit séquentiel. Le test de différents types de réseaux logiques est abordé. Nous distinguons les réseaux sans sortance multiple (FOF: Fan-Out Free), à sortance multiple non-reconvergente (NRFO : non-reconvergent Fan-Out), et à sortance multiple reconvergente (RFO: reconvergent Fan-Out).

Abstract FR:

Cette thèse traite de la détection des pannes du niveau transistors, pour la technologie CMOS : les pannes de type stuck-on et stuck-open sont considérées.