Abstract FR:

L'evolution drastique de la technologie de fabrication des circuits integres rend difficile l'utilisation des outils d'analyse classiques. Parmi ces derniers, les cristaux liquides permettent neanmoins la localisation d'un defaut physique ou electrique sur circuit integre. Cette etude a pour objet de preciser dans quelles limites et sous quelles conditions la methode de test par cristaux liquides reste viable dans un environnement industriel. Comparee aux outils d'analyse actuellement disponibles, cette methode, qui autorise a la fois la detection de points chauds et la visualisation en contraste de potentiel d'un circuit en fonctionnement, revele un taux de couverture de defauts eleve. Sa limite d'utilisation en frequence en fait un outil complementaire du test par faisceau d'electrons. Mais la mise en uvre des cristaux liquides souleve les problemes de la fiabilite et de la reproductibilite des manipulations. Ainsi, la presence d'un relief en surface du circuit sous test pourra nuire a l'interpretation. De meme, les etapes de preparation de l'experience pourront mettre en peril le circuit, souvent unique, presentant la defaillance. Aussi s'efforcera-t-on au cours de ce travail de mettre en place des procedes bien maitrises qui minimiseront les risques d'erreurs. La methode de test par cristaux liquides est suffisamment attractive pour que l'on s'attache a la rendre fiable. Elle permet en effet le test in situ des composants defaillants, ce qui evite de reproduire artificiellement les conditions d'apparition du defaut au risque de le faire disparaitre, et qui autorise l'utilisation du programme de test non modifie d'une carte electronique complete. C'est ce qui fait la particularite de la methode par rapport aux autres disponibles actuellement. C'est aussi l'argument qui a motive notre choix dans un contexte de fabrication de cartes electroniques complexes