Abstract FR:

Le bist (built-in self-test) est une technique de test autonome puisque toutes les fonctions necessaires pour le test sont implementees a l'interieur du circuit lui-meme. Il peut assurer la testabilite pendant la duree de vie du circuit (test apres fabrication au niveau puce et wafer, test au niveau carte et systeme, test de maintenance et test periodique pendant l'utilisation du circuit). En ce qui concerne le scan path, cette solution permet l'elimination des problemes de controlabilite et d'observabilite qui sont presents surtout lors du test de circuits enterres. L'inconvenient de cette technique est l'augmentation du temps de test. L'utilisation d'un circuit bist requiert generalement un peu plus de materiel, mais reduit considerablement le temps de test. Cependant, le choix de la solution de test la plus performante depend de differents criteres (taille de la memoire, temps de test, taux de couverture de fautes, effort de conception etc. ). Ainsi, dans cette these nous proposons plusieurs techniques scan path et bist pour memoires ram. Pour la solution scan path, nous proposons une technique divisant par n le temps d'application des donnees de test (n etant la longueur de la donnee de test). Pour l'observation des reponses plusieurs techniques tenant compte du temps d'observation et de la couverture de fautes sont etudiees. Concernant la solution bist, differentes techniques pour la generation d'adresses, la generation des donnees de test et la verification des reponses de sorties sont proposees. Un outil pour la generation automatique de ces schemas bist et scan path a ete realise. Cet outil permet aussi de choisir la technique de test la plus adequate. Toujours concernant la solution bist, une technique de realisation d'analyseurs de signature sans masquage et une autre pour le calcul exact du taux de masquage ont ete aussi proposees. Concernant le test periodique de rams qui est parfois obligatoire dans un systeme, nous proposons une architecture de bist transparent tres efficace qui permet de tester la ram sans detruire son contenu initial. Un outil de generation automatique de bist transparent pour rams a aussi ete developpe