Abstract FR:

Cette these traite de la synthese materielle de haut niveau en vue de la testabilite. Nous avons developpe une methodologie originale pour ce faire, mise en uvre dans un outil flexible d'allocation capable de fonctionner en conjonction avec la plupart des systemes de synthese de haut niveau existants. L'objectif est l'obtention de chemins de donnees testables pour une augmentation minimale de la surface et une faible degradation des performances. L'outil propose realise les modifications du chemin de donnees pour le test externe (insertion de points de test ou scan) ou pour le test interne (bist) au niveau rtl. Le resultat est retourne au systeme de synthese de haut niveau pour les optimisations finales. Un algorithme de compromis cout/qualite, incluant une methode d'analyse de la testabilite au niveau rtl, a ete developpe pour guider l'allocation des ressources de test. La methode d'allocation en vue de la testabilite presentee est implementee dans un outil nomme idat (interactive design for test in allocation for testability). Idat integre les approches par insertion de points de test, scan et bist en un outil unique, permettant a l'utilisateur une totale liberte de selection de la methodologie. L'originalite d'idat reside egalement dans l'interactivite avec l'utilisateur, ainsi que dans le concept de reutilisation de blocs testables existants (dft reuse). Notre algorithme de compromis cout/qualite respecte l'experience du concepteur en matiere de conception en vue du test, ses attentes sur les attributs de conception et de testabilite du circuit final, tout en exploitant les ressources de la bibliotheques de composants testables. Cet algorithme est implemente sous la forme d'un parcours branch and bound de l'espace des