thesis

Méthodologies pour l'intégration de circuits mixtes

Defense date:

Jan. 1, 1999

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Institution:

Montpellier 2

Disciplines:

Directors:

Abstract EN:

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Abstract FR:

Cette these propose une methodologie de conception pour les circuits specifiques asic mixtes complexes. Apres une revue des avancees realisees dans le domaine de la conception d'asic mixtes, une technique de conception est proposee. Elle est basee sur l'utilisation d'un co-simulateur analogique/numerique et de la macromodelisation spice. Dans un premier temps, nous presentons la technique de macromodelisation spice permettant d'ameliorer considerablement les performances de vitesse et de precision de la simulation electrique. Cette technique ne demande pas un temps de modelisation important et permet de creer des modeles aptes a la co-simulation. Dans un deuxieme temps, les macromodeles spice sont utilises pour la verification d'un asic mixte complexe pendant toutes les phases de la conception. En effet, le co-simulateur permettant d'analyser des circuits numeriques decrits en langage vhdl et des parties analogiques en langage spice, il est possible d'eliminer les defauts de fonctionnement d'un circuit avant de le produire. De plus, compte tenu des ameliorations introduites par la macromodelisation spice, la vitesse de la simulation est adaptee aux systemes de grande complexite et par la, le temps de conception n'est pas degrade de maniere importante. Les validations realisees ont ete basees sur diverses implantations d'asic dedies au systeme de telecommunication dect. Dans ce manuscrit, nous presentons les mesures effectuees sur deux de ces asic pour mettre en evidence la precision de la methode de verification. L'approche developpee permet ainsi de reduire considerablement les couts associes a la conception d'asic mixtes : d'une part la modelisation et la simulation rapide de systemes complexes reduit le temps de developpement, et d'autre part la precision de la technique evite la fabrication de prototypes, car il est possible de corriger tous les defauts du circuit pendant les diverses phases de simulation.