Abstract FR:

Cette these propose des techniques de test integre en domaine statique (dc) des circuits analogiques et mixtes analogique-numerique. Le premier chapitre presente une vue globale des problemes lies au test des circuits mixtes. Ensuite, une revue de l'etat de l'art en matiere de test integre de ces circuits est presentee. Le deuxieme chapitre traite de la testabilite en courant et en tension des cellules analogiques elementaires. Une etude sur la testabilite en courant de cellules de type amplificateur operationnel nous a conduit a degager une technique generale de test pour ce type de cellules. Cette technique consiste a saturer la cellule sous test (par le controle de ces tensions d'entrees) et a observer le nud de tension interne correspondant a la sortie de son etage differentiel. Des taux de couverture de fautes proches de 100% sont alors obtenues. Ensuite, nous avons mis au point un capteur de tension original permettant l'analyse complete de la signature issue du nud sous test. Ce capteur offre la possibilite de realisation de l'analyse de signature a tres faible cout en surface de silicium ajoutee. Le troisieme chapitre est consacre au test integre des circuits a capacite commutees. Apres un bref rappel de la technique des capacites commutees, deux techniques de test de ces circuits tirant profit de leur nature particuliere ont ete proposees. Les deux techniques utilisent la possibilite de reconfiguration des circuits a capacites communautees par des moyens de cvt pour realiser des circuits facilement testables en dc. La premiere permet de mesurer directement in-situ les rapports capacitifs intervenant dans la fonction de transfert d'un circuit a capacite commutees. Les performances de ce circuit sont ensuite evaluees permettant ainsi de s'affranchir du probleme delicat de la modelisation de fautes analogiques. La deuxieme technique offre la possibilite de realiser l'integration complete des ressources de test des circuits a capacites commutees. Deux algorithmes de synthese haut niveau des ressources de testabilite mis en uvre par les deux techniques ont ete proposes. Il a aussi ete montre qu'un dimensionnement adequat des composants de cvt permet de minimiser leur influence sur le fonctionnement normal du circuit pour une large gamme de frequences. Enfin, les validations realisees montrent la viabilite de ces deux techniques.