Abstract FR:

Le microscope a force atomique (afm pour atomic force microscope) et le microscope snom (scanning nearfield optical microscope) permettent d'obtenir respectivement des images de la topographie et du champ proche optique d'une surface. Avant d'appliquer une boucle d'asservissement a un systeme (microscope) il est necessaire d'en caracteriser les differents elements. L'objectif de ce travail est de realiser les commandes (logiciel d'asservissement pid et pi-floue) d'un dispositif permettant d'obtenir simultanement des images afm et pstm.