Abstract FR:

Ignorer les contraintes severes existant sur les circuits integres et systemes electroniques fonctionnant en environnement radiatif - haute atmosphere, espace, nucleaire - peut avoir des consequences inestimables. En effet, les phenomenes lies aux effets ionisants et aux collisions avec des particules (ions lourds, neutrons etc) engendrent des pannes et/ou des reponses erronees dans les circuits electroniques si aucun durcissement n'est mis en uvre. Une premiere approche de prevention des pannes est souvent mise en place au niveau systeme. Elle fait appel a des techniques de redondance. Une autre methode a pour objectif d'ameliorer la fiabilite au niveau technologique par l'utilisation d'un process de fabrication durci aux radiations (tel que le soi). Face aux nouveaux besoins de l'electronique aeronautique et spatiale, non totalement satisfaits par les precedentes solutions, une nouvelle tendance emerge, developpee dans ce travail. Elle consiste a pratiquer le durcissement au niveau de la conception des circuits en conservant une technologie standard. Les convertisseurs a/n flash sont les elements cles dans l'acquisition des donnees a grande vitesse. Des observations ont montre leur forte sensibilite aux effets radiatifs. Dans un premier temps, la methode consiste a partitionner l'architecture du convertisseur en blocs pour en identifier les reponses aux differentes perturbations. Dans une deuxieme etape, le durcissement est mis en uvre en utilisant deux techniques complementaires prenant en compte les contraintes fonctionnelles : une re-configuration de la structure logique et une re-conception de certains blocs individuels. Le travail de validation effectue sur des bascules, et la conception d'un can flash durci ont conduit a proposer un prototype realise dans une technologie standard. Les simulations, jointes a certains tests effectues au sol permettent de demontrer l'amelioration de la securite de fonctionnement apportee par les solutions proposees.