Abstract FR:

La mise en place des premieres constellations de satellites pour les telecommunications et la tendance generale a utiliser des composants commerciaux pose le probleme de la vulnerabilite et de la duree de vie des composants de type mos a l'effet de dose. Lors de ces missions, l'utilisation generalisee de composants commerciaux ou cots (commercial of the shelf) qui ne sont pas, a priori, durcis passe donc par une selection qui doit faire l'objet d'une attention toute particuliere. Le travail presente ici concerne la mise en place d'une methodologie de tri des cots qui s'appuie sur la relaxation thermique des charges piegees dans le volume de l'oxyde. Apres avoir presente les phenomenes physiques a l'origine des degradations induites par les rayonnements ionisants dans les isolants et leurs consequences sur les caracteristiques des composants mos, nous donnons les bases d'une methode de qualification des composants qui prend en compte les specificites de l'oxyde et les parametres de la mission. Cette methode a ete appliquee sur trois familles de composants. Les resultats obtenus montrent un bon accord entre la prediction et l'experience dans la limite d'une erreur inferieure a 10%. Le domaine de validite de la methode et les precautions a prendre lors de l'interpretation des resultats sont ensuite analyses. Dans la derniere partie, nous avons aborde l'influence du champ electrique sur les processus qui regissent le comportement des composants irradies.