Abstract FR:

La méthode de mise au point des circuits intégrés VLSI est basée sur l'utilisation de techniques améliorant la testabilité, comme le chemin de test (LSSD). Différentes approches structurées (approches descendante, ascendante, recherche binaire) sont étudiées à travers un circuit complexe, le papillon FFT. Les problèmes spécifiques de la mise au point sont analysés et des solutions sont proposées. La réalisation d'un outil de mise au point est présentée. Il est composé d'un système permettant l'échantillonnage et la génération de vecteurs de test et d'un ensemble d'interfaces logicielles et matérielles assurant la liaison avec la chaîne de conception assistée par ordinateur et un banc de test sous pointes.