Abstract FR:

L'emission electronique par effet de champ en courant continu (dc) d'electrodes etendues a ete mesuree dans un microscope electronique a balayage (meb) modifie par introduction d'une pointe permettant des etudes localisees de l'emission electronique. Deux sortes de sites emetteurs ont ete etudies en detail: des particules, de nature et de formes controlees, deposees volontairement sur la cathode et des defauts geometriques obtenus par des contacts mecaniques sur la surface de la cathode. Nous avons montre que la taille des particules ne semble pas influencer les champs seuils d'emission alors que leurs formes ou leurs natures jouent un role determinant vu que les particules isolantes ou de formes spheriques n'emettent pas meme pour des champs appliques de 120 mv/m. La methode de fabrication des defauts geometriques et la similarite de leur emission sur des echantillons de niobium et d'or suggere que l'emission pourrait provenir de protuberances metalliques. Un modele de protuberances superposees est propose pour expliquer le renforcement local du champ sur ces deux sortes de sites emetteurs