Abstract FR:

Face a l'evolution technologique rapide des performances des transistors a heterostructure sur semiconducteurs iii-v et a l'augmentation du nombre d'applications dans le domaine des communications micro-ondes, le concepteur exige de nouveaux outils qui permettent de caracteriser en bruit, a la fois les composants et le circuit global. Les objectifs de cette these ont ete les suivants: 1) elaborer une methode fiable d'extraction des parametres de bruit d'un transistor a partir d'un ensemble de points de mesure. Cette methode fournit aussi des indications sur les incertitudes du banc de mesure ; 2 presenter un algorithme de calcul des parametres de bruit d'un circuit micro-ondes ayant une topologie arbitraire. Cette demarche a aboutit a l'elaboration d'un logiciel donnant acces egalement aux performances electriques du circuit