Abstract FR:

La these traite de methodes de calculs applicables aux dispositifs microelectroniques utilises dans le domaine millimetrique. Ces dispositifs comportent des discontinuites qu'on se propose de caracteriser. Deux types de methodes sont exposees, basees sur l'approche dans le domaine spectral: l'une, rapide, permet de caracteriser des discontinuites uniaxiales. C'est la methode de raccordement modal; l'autre, plus generale, permet de caracteriser des discontinuites multiaxiales. C'est la methode des elements finis