Abstract FR:

Ce travail porte sur la génération automatique de séquences de test afin de détecter des défaillances de circuits logiques décrits au niveau structurel. Le problème posé étant NP-complet, une recherche exhaustive de solutions n'est pas exploitable. L'approche développée dans cette thèse définit un modèle connexioniste (pour représenter les circuits) et des principes de génération (méthodes de résolution pour générer des séquences de test). Le modèle, qui associe un réseau d'automates à seuil à une fonction logique, est parallèle par nature. Il est construit de façon à connaître l'état global du réseau en utilisant des fonctions qui sont calculées localement au niveau de chaque automate. Le principe de génération de séquences de test pour un circuit est fondé sur le comportement dynamique du réseau d'automates associé. Ce comportement est caractérisé par une fonction d'énergie. Le problème équivaut alors à minimiser cette fonction sachant qu'elle peut éventuellement présenter des minima locaux. Cette minimisation peut être réalisée de manière déterministe, probabiliste ou par une méthode mixte. Plusieurs générateurs de séquences de test ont été définis en utilisant des méthodes de génération telles que: «descente de gradient», «recuit simulé» ou «guidage par les fonctions locales». Ils ont permis d'obtenir des résultats comparables aux générateurs classiques (dont le modèle de circuit est un graphe) sans faire l'étude de cas particuliers de circuits.