Abstract FR:

L'objectif de l'etude est de modeliser les evolutions de textures des toles industrielles de zirconium, laminees a la temperature ambiante, a partir des mecanismes de deformation identifies experimentalement. Pour cela, on etudie les textures de laminage et de compression plane de 5 types d'echantillons (notees t1 a t5). T1 presente une texture classique de laminage, t2 se deduit de t1 par une rotation de 90 autour de la direction normale a la tole dn et t3, t4 et t5 presentent respectivement une concentration importante d'axes <c> autour de dn, dt et dl. Dl represente la direction libre du couloir (et aussi la direction de laminage) et dt la direction normale aux parois du couloir (et aussi la direction transverse). Le materiau d'etude est du zirconium 702 dont la taille de grains moyenne est de l'ordre de 15 a 20 microns. La diffraction des rayons x est utilisee pour mesurer les textures globales des echantillons tandis que la diffraction des electrons retrodiffuses ou ebsd (electron back scattering diffraction) est utilisee principalement pour identifier les mecanismes de deformation des echantillons (glissement et maclage). On considere dans l'etude des taux de deformation de 10%, 20% et 40% en compression plane et des taux de 40%, 80% et 120% en laminage. Les mecanismes identifies sont ensuite introduits dans un modele autocoherent viscoplastique afin de comparer les simulations numeriques aux resultats experimentaux en termes de textures globales, de mecanismes actifs et de courbes macroscopiques