thesis

Analyse statistique et optimisation du rendement de fabrication des circuits electroniques

Defense date:

Jan. 1, 1998

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Institution:

Paris 11

Disciplines:

Directors:

Abstract EN:

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Abstract FR:

Ce travail porte sur l'etude et le developpement de methodes d'estimation du rendement de fabrication et d'optimisation du rendement des circuits integres et discrets. Nous presentons tout d'abord une etude bibliographique afin de classer les methodes proposees dans la litterature. Les methodes de monte carlo sont retenues pour evaluer le rendement car elles n'imposent aucune contrainte sur la forme des performances du circuit. Nous etudions des techniques de reduction de la variance pour l'estimateur de monte carlo. Nous proposons l'estimateur par echantillonnage pondere optimal, l'estimateur par echantillonnage stratifie optimal, l'estimateur par echantillonnage des hypercubes latins (lhs) et sa variante lhs modifie (mlhs). Dans le cadre de l'optimisation du rendement, nous choisissons l'algorithme des centres de gravite (centers of gravity (cog)). Dans la litterature, cet algorithme est classe parmi des methodes heuristiques applicables aux circuits discrets. Cet algorithme est simple a mettre en oeuvre et numeriquement robuste. Nous etablissons les fondements theoriques de cet algorithme. Nous demontrons qu'il s'agit d'une methode d'optimisation du rendement qui a certaines proprietes d'optimalite. Ensuite, en introduisant deux estimateurs efficaces des centres de gravite et le plan d'echantillonnage lhs, l'algorithme cog ameliore (icog) est propose. Nous developpons egalement l'algorithme cog generalise (gcog) qui est applicable aux circuits integres et discrets. Afin de valider les algorithmes proposes, nous avons developpe optomega, un environnement d'optimisation nominale, d'optimisation du rendement et d'analyse statistique des circuits.