Abstract FR:

Le sujet de la thèse est la determination de paramètres caractéristiques des lasers à semi-conducteur et des composants et circuits optoélectroniques en utilisant la réflectométrie à faible cohérence. La première partie était la conception et la réalisation du réflectomètre à faible cohérence permettant cette analyse. La deuxième partie de la thèse était l'investigation de lasers a semi-conducteur, dont plusieurs à réaction distribuée. Du haut réseau compris dans ces lasers, le spectre de la lumière réfléchie est fortement filtre. Ce filtrage spectral interne a l'objet sous test rendant l'interprétation du reflectogramme très difficile, une théorie générale de la réflectométrie à faible cohérence est développée. Cette théorie prend en compte entre autres les effets de filtrage spectral. Elle permet de simuler des reflectogrammes sur ordinateur, et les résultats sont comparés aux reflectogrammes mesures. Cette comparaison des résultats simule avec les résultats mesures donne souvent des informations intéressantes sur certains paramètres physiques du laser sous test. La visibilité de certaines structures observables dans le reflectogramme s'améliore lorsque le spectre de la lumière de test, qui a priori est large bande, est réduit par un filtrage. Un chapitre de cette thèse est en conséquence consacre à l'investigation de différents types de filtres optiques. Les résultats obtenus incluent entre autres la détermination des indices de réfraction de groupe du guide d'onde et du substrat d'un laser a semi-conducteur, la mesure de la différence entre les indices de réfraction de groupe de deux modes de polarisation, la détermination du courant de fuite inter électrode dans des lasers multi électrodes, ainsi que la mesure de la position d'un éventuel saut de phase dans des lasers a contre-réaction distribuée.