Abstract FR:

Les proprietes de transfert electronique aux interfaces m. O. E. (metal/oxyde/electrolyte) et m. I. M. (metal/isolant/metal) ont ete mises en evidence en s'appuyant sur deux exemples significatifs. Ainsi, l'electrode de tantale recouverte d'une couche passivante d'oxyde ta#2o#5 a ete etudiee en presence d'un couple redox en solution. Par ailleurs, le depot a l'interface d'un metal noble tel que le platine confere a la structure m. O. (. Ainsi constituee des proprietes de conduction remarquables qui la rapprochent d'une electrode de platine pur. Le deuxieme exemple choisi a ete celui de l'argent pour lequel il est possible d'envisager une structure m. I. M. Symetrique (ag/ag#2o/ag). Dans les deux cas, une etude prealable a ete necessaire afin de maitriser les parametres experimentaux de l'anodisation qui conferent aux couches d'oxydes les proprietes electriques adequates