Abstract FR:

L'effet de recuit a ete examine sur des dispositifs electroluminescent a base de couches minces inorganiques en zns:mn (phosphorant). Le recuit thermique classique est compare avec une nouvelle technique de recuit laser utilisant des impulsions d'irradiations de lasers krf de 20 ns. Durant le recuit laser, les echantillons furent places dans un environnement pressurise pour limiter la sublimation du phosphorant supposee etre le mecanisme responsable des processus d'ablation laser. Des analyses cristallines au moyen de diffraction aux rayons x ont ete faites et un modele theorique a ete developpe. La combinaison des resultats experimentaux et theoriques demontre que le recuit par laser krf pulse permet une transition de phase en profondeur dans la couche phosphorante avec une absorption minimale d'energie aux interfaces et revetements dielectriques. Des mesures de photoluminescence suggerent que la transition de phase est concomitante a une augmentation du nombre de centres luminescents actifs. Ainsi, il est demontre que cette nouvelle technique de recuit convient aux applications electroluminescentes et la preuve experimentale est donne par une augmentation quadruple de la brillance du dispositif comparee a des dispositifs traites thermiquement a 450\c. En accord avec la simulation et les analyses structurelles et de luminescence, cette amelioration du rendement d'electroluminescence est attribuee a un recuit localise du film phosphorant avec des modifications minimales a la limite phosphorant / dielectrique ce qui fut en premisse de cette etude.