Abstract FR:

Nous presentons dans le cadre de cette these notre contribution a l'etude des materiaux a geometrie fractale suivant une approche a la fois experimentale et theorique. Nous nous sommes orientes vers le domaine des structures fractales deterministes que nous avons realisees par un procede microelectronique (technologie mis : metal-isolant-semiconducteur). L'etude de ces structures au travers de leurs impedances a revele d'une part un comportement frequentiel etroitement correle a leur dimension fractale et d'autre part, des proprietes physiques particulieres telles : - un comportement frequentiel d'ordre non entier du module de l'impedance d'entree ze dans une plage de frequence dont on peut moduler la position en frequence en agissant sur certains parametres technologiques tels l'epaisseur de la couche conductrice ou celle de la couche dielectrique. - un comportement a angle de phase constant (cpa) de l'argument de l'impedance ze dans la meme plage de frequence que precedemment et dont on peut egalement moduler la position en frequence comme ci-dessus. La modelisation electrique de ces structures capacitives dont l'une des armatures est fractale a ete validee par une etude comparative entre mesures electriques en basse et hyperfrequence avec les simulations effectuees avec des outils tels que pspice et mathematica. Nous avons alors elabore une methode permettant de retrouver la dimension fractale de ces structures par une mesure d'impedances a differents niveaux d'iteration. Pour conclure, nous avons propose un exemple concret d'application de nos composants a travers l'etude de la stabilisation robuste d'un systeme asservi.